变质反应中硅氧键总平均值的变化

• 作者: 叶大年 李哲 赫伟
• 来源期刊: 科学通报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 变质反应 硅氧键长 总平均值
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 78-80
• 页数: 3页
• 分类号: P5
• 字数: 3565字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0023-074X.2001.01.020

摘要

以X射线单晶结构分析的精测资料为依据,计算了33个变质反应前后的硅氧键总平均值,得出结论：增温趋向使硅氧键长的总平均值减小,而增压趋向使硅氧键长的总平均值加大.这个结论在理论上的意义在于,在硅酸盐体系中,增温趋向使硅氧键的共价性增强,增压趋向使硅氧键的离子性增强.高压下四面体的硅氧键会增长,超高压下四配位的硅会变成六配位,硅氧键会突然大大增长,即硅氧键的总平均随压力增加而增长,是一个由量变到质变的过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李哲	中国科学院地质与地球物理研究所	157	1185	19.0	29.0
2	叶大年	中国科学院地质与地球物理研究所	28	238	6.0	15.0
3	赫伟	中国科学院地质与地球物理研究所	5	106	3.0	5.0