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摘要:
【正】 Y2000-62575-216 0104387芯片上模/数和数/模转换器测试用的机内自测法=ABIST Scheme for on-chip ADC and DAC testing[会,英]/Huang,J.-L.& Ong,C.-K.//Proceedings of Design,Automation and Test in Europe Conference 2000.—216~220(ZC)
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文献信息
篇名 自动测试及其系统
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 自动测试系统 模转换器 虚拟仪器测试系统 机内测试 芯片 机载雷达发射机 电力系统 测控系统 计算机自动测量 和数
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 77-78
页数 2页 分类号 TN
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自动测试系统
模转换器
虚拟仪器测试系统
机内测试
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电力系统
测控系统
计算机自动测量
和数
研究起点
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期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
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10413
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1
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71
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