基本电路

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 取样鉴相频率合成器 分岔现象 分岔集 基本电路 系统参数 电子技术应用 不动点 电子工业 梯形 倍频
• 年，卷（期）: 2001,（11）
• 页码范围: 31-31
• 页数: 1页
• 分类号: TN

摘要

【正】 0118545一种改善 DDS 性能的倍频方法[刊]/谭姝静//电子技术应用.—2001,27(6).—44～46(E)0118546梯形取样鉴相频率合成器的 Hopf 分岔集[刊]/谭永明//桂林电子工业学院学报.—2001,21(2).—15～17(E)分析和研究梯形取样鉴相频率合成器环的分岔现象,根据 Ushio 与 Hira 等人的方法,从理论上证明了当系统参数满足一定条件时,系统会出现分岔现象,具体计算出系统在各个不动点处的 Hopf 分岔集,给出了分