X射线二维衍射数据与晶体取向分布函数的关系研究

• 作者: 余永宁 冯惠平 毛卫民 陈冷
• 来源期刊: 中国体视学与图像分析
• 学科: 工学
• 关键词: 面探测器 织构 在线检测 铝
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 202-206
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.22
• 字数: 2947字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1482.2002.04.003

摘要

以材料织构在线检测技术为应用背景,用X射线多晶面探测器测量了深冲压铝板的织构,研究了X射线二维衍射数据与晶体取向分布函数之间的关系,分析了用面探测器采集极图上不同区域数据对计算取向分布函数的影响.结果表明,面探测器可以同时采集多个极图数据,而且只采集极图上高密度值数据,忽略极图上低密度值数据,仍可准确计算取向分布函数,这为开发材料织构在线检测技术提供了理论基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛卫民	北京科技大学材料学系	351	4505	35.0	51.0
2	冯惠平	北京科技大学材料学系	37	535	12.0	22.0
3	陈冷	北京科技大学材料学系	52	225	9.0	12.0
4	余永宁	北京科技大学材料学系	19	318	10.0	17.0