对某微型继电器线圈开路的失效分析

• 作者: 张延伟 陈雁
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 继电器 可靠性 失效分析 共振
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 15-17
• 页数: 3页
• 分类号: TM587.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.05.004

摘要

某微型灵敏继电器在某航天重点型号分系统随机振动试验中连续出现失效,通过对继电器失效分析,发现了继电器线圈装配工艺中的薄弱环节和整机振动试验中的共振问题,为提高继电器在整机上装配可靠性和改进继电器的设计提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张延伟		24	105	6.0	9.0
2	陈雁		6	13	3.0	3.0