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用CCD测量汞干涉条纹(谱线)的宽度
用CCD测量汞干涉条纹(谱线)的宽度
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摘要：
介绍了运用鲁末-盖格板及棱镜光谱仪得到某一波长谱线的干涉条纹,用CCD拍摄和计算机处理,能快捷地得到该谱线宽度的方法.
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内容分析
关键词云
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(/年)
文献信息
| 篇名 | 用CCD测量汞干涉条纹(谱线)的宽度 | ||
| 来源期刊 | 中山大学学报(自然科学版) | 学科 | 物理学 |
| 关键词 | 干涉条纹 半高全宽(FWHM) 电荷耦合器件(CCD) 计算机程序 | ||
| 年，卷（期） | 2002,（4） | 所属期刊栏目 | 研究简报 |
| 研究方向 | 页码范围 | 114-116 | |
| 页数 | 3页 | 分类号 | O433.1 |
| 字数 | 1735字 | 语种 | 中文 |
| DOI | 10.3321/j.issn:0529-6579.2002.04.030 | ||
五维指标
引文网络
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2007(2)
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2013(2)
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研究主题发展历程
节点文献
干涉条纹
半高全宽(FWHM)
电荷耦合器件(CCD)
计算机程序
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中山大学学报(自然科学版)
主办单位：
中山大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
0529-6579
CN：
44-1241/N
开本：
大16开
出版地：
广东省广州市新港西路135号
邮发代号：
46-15
创刊时间：
1955
语种：
chi
出版文献量（篇）
5017
总下载数（次）
6
总被引数（次）
45576
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