物理测试开发工作组及TST1 1.1规范简介

• 作者: 唐世庆 杜高明 王晓蕾 赵虹
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: SoC VC 测试 规范
• 年，卷（期）: 2002,（11）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TP31
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2002.11.006

摘要

文章简单介绍了VSIA十一个开发工作组之一的"物理测试开发工作组"的最新技术进展状况,并以在SoC整个芯片的测试中VC测试需解决的诸多问题为线索,对其颁布的规范"VC供应商的测试数据交换格式和准则的规范"作了重点介绍.指明了制定测试规范对降低测试成本,推动SoC产业发展具有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜高明	合肥工业大学微电子设计研究所	37	327	7.0	17.0
2	王晓蕾	合肥工业大学微电子设计研究所	14	78	4.0	8.0
3	唐世庆	合肥工业大学微电子设计研究所	4	16	2.0	4.0