基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

• 作者: 蔡瑞青
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: Ultra-FLEX 集成电路 测试 测试系统
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 页码范围: 20-21,39
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 1643字
• 语种: 中文

摘要

在半导体技术高速发展的今天，对集成电路的测试要求越来越高，测试开发的难度、复杂度都在增加，如何应对当前集成电路的测试需求，成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统，用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源，列举了部分模块及其功能和参数；描述了一般集成电路测试开发的流程，并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容；介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境，列举了测试程序构成要素以及各自功能；介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境，测试系统提供的调试工具以及调试方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡瑞青		1	4	1.0	1.0