基于V93k的多时钟域集成电路测试技术研究

• 作者: 周圣泽 唐锐 罗宏伟 陈勇帆
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 集成电路 多时钟域 共时测试
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 59-62
• 页数: 4页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2019.05.010

摘要

随着复杂集成电路的飞速发展,SoC产品成为了整机系统的重要解决方案.由于此类产品的复杂结构、多时钟域特性,对测试方法和测试技术也提出了更高的要求.尽管测试仪器设备及测试手段在近年来也在快速发展,但是仍然不能完全满足此类产品发展的需求.如何快速、有效地完成此类产品的测试一直是测试从业人员特别关注的问题.针对此类多时钟域产品,共时测试方案是一种高效的解决方案,但是其实现过程较为复杂,其向量转换、测试程序开发等方面都需要借助特别的手段来实现.主要针对多时钟域产品共时测试开发的解决方案、向量转换等问题进行了研究,并给出了基于V93k ATE进行单时钟和多时钟测试等多种解决途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗宏伟		27	98	5.0	9.0
2	唐锐		5	6	1.0	2.0
3	周圣泽		3	6	1.0	2.0
4	陈勇帆		2	1	1.0	1.0