用于杂光测量的控制系统

• 作者: 梁蕴绵
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2002,（z1）
• 所属期刊栏目: 光电探测技术
• 页码范围: 440-444
• 页数: 5页
• 分类号: TN2
• 字数: 3446字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2002.z1.091

摘要

杂光测试是检验光学系统(主要是镜头)质量的一项重要内容.为了获得高信噪比,要使用专门的杂光测试仪检测杂光,分析杂光成因,从而尽可能的消除杂光.本文介绍了某杂光测试仪的测量自动化方案及为提高测量性能而采取的技术措施;重点讨论了模拟目标和探测器通道的控制技术.仪器具有智能仪器的特点,使杂光系数的测量基本实现了自动化,尽可能的减少了用户的操作动作.仪器提供了手动和自动两种测量方法,扫描机构三维可调,数据处理自动完成,记录测量日期,打印输出采样结果、扫描照度曲线及计算的杂光系数.该杂光测试仪已付诸实用.经检测:其重复测量误差在动态时小于0.02%,在定点时小于±0.01%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁蕴绵	中国科学院西安光机所	5	7	1.0	2.0