采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法

• 作者: 丁国清 朱洪海 李佳列 颜国正
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷耦合器件 尺寸测量 边缘检测 梯度
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术及设备
• 页码范围: 281-284
• 页数: 4页
• 分类号: TB92
• 字数: 1344字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2002.03.012

摘要

利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法,但受到CCD像元特征尺寸的限制,测量精度往往只能达到微米级,限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用.本文从算法角度提出了一种提高CCD精度的方法.实验证明,方法能将测量的精度提高一个数量级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜国正	上海交通大学信息检测技术及仪器系	340	4219	33.0	49.0
2	丁国清	上海交通大学信息检测技术及仪器系	118	1385	19.0	32.0
3	李佳列	上海交通大学信息检测技术及仪器系	10	143	7.0	10.0
4	朱洪海	上海交通大学信息检测技术及仪器系	11	131	5.0	11.0