不同上升时间快前沿电磁脉冲引起PN结失效、烧毁的二维数值模拟

• 作者: 关颖 周辉 张义门 郭红霞 陈雨生 韩福斌 龚仁喜 龚建成
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 电磁脉冲(EMP)器件模拟 漂移扩散模型 结热二次击穿
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2002.03.005

摘要

利用半导体器件二维模拟软件数值模拟计算了不同上升时间的快前沿电磁脉冲对PN结的毁坏过程,对计算结果作了分析,得到了一维器件模拟无法得到的电流通道等其他二维效应,详细地给出了器件正常工作、失效直至烧毁的全过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周辉		84	938	16.0	26.0
2	龚仁喜		13	185	10.0	13.0
3	郭红霞		81	385	10.0	13.0
4	陈雨生		36	433	11.0	19.0
5	张义门		2	31	2.0	2.0
6	关颖		1	21	1.0	1.0
7	韩福斌		1	21	1.0	1.0
8	龚建成		1	21	1.0	1.0