耐电晕测试中脉冲电压上升时间的变化对变频线老化寿命的影响

• 作者: 叶贤刚 夏克 孟祥富 许民
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 电容值 上升沿 脉冲电压上升时间 老化寿命
• 年，卷（期）: 2015,（4）
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TM851|TM206|TM855+.2
• 语种: 中文

摘要

为研究影响变频电机用漆包线老化寿命的主要因素，采用不同规格的变频电机用漆包线作试样，对比研究了在不同脉冲电压上升时间下变频电机用漆包线的老化寿命。结果表明：在其它测试条件不变的情况下，试样电容值的变化会导致脉冲电压上升时间的变化，进而影响老化寿命；当脉冲上升时间加长时，击穿时间也延长；当脉冲上升时间缩短时，击穿时间也随之减少。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟祥富		2	8	1.0	2.0
2	夏克		1	7	1.0	1.0
3	叶贤刚		1	7	1.0	1.0
4	许民		1	7	1.0	1.0