耐电晕PI薄膜及其耐电晕寿命评定方法的研究

• 作者: 王寿泰 郝铭波
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 耐电晕PI薄膜 寿命评定 方法
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 绝缘技术
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TM21|TB3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2000.03.008

摘要

本文主要研究适合变频电机使用的改性聚酰亚胺的耐电晕性能,采用逐级升压击穿法评定耐电晕寿命.首先测试了由杜邦公司提供的FCR薄膜的耐电晕性能,所得结果与杜邦公司提供的数据吻合得很好;对杜邦Kapton CR薄膜和几种自制薄膜进行了耐电晕测试,并将两次测试结果作了对比和分析.证明所采用的测试方法是简便可靠的,CK6、CK2和B10-2型薄膜具有接近FCR膜的耐电晕性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王寿泰		18	105	5.0	10.0
2	郝铭波		1	21	1.0	1.0