辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复

• 作者: 周立业 安继刚 顾伯华
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 辐射成像无损检测系统 图像模糊 冲击响应函数 图像恢复 维纳滤波功率谱
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: TP317.4|TL81
• 字数: 1898字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2002.01.005

摘要

对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数.利用维纳滤波对模糊图像进行恢复.对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周立业	清华大学核能技术设计研究院	22	73	6.0	6.0
2	安继刚	清华大学核能技术设计研究院	21	72	5.0	6.0
3	顾伯华	清华大学核能技术设计研究院	5	11	2.0	3.0