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摘要:
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半导体器件成品率的高低是产品质量与可靠性高低的"预示"
电子元器件
工艺控制
成品率
质量
可靠性
基础教育质量标准及评价体系探讨
基础教育
质量标准
评价体系
医疗质量测量指标基础数据的标准化方法
医疗质量测量
数据模型
质量数据模型
参考信息模型
数据元
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 标准水平是决定质量高低的基础
来源期刊 企业标准化 学科
关键词
年,卷(期) 2002,(9) 所属期刊栏目 本刊特稿
研究方向 页码范围 4-5
页数 2页 分类号
字数 2627字 语种 中文
DOI
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期刊影响力
品牌与标准化
双月刊
1674-4977
21-1564/T
大16开
沈阳市皇姑区崇山东路61号
8-160
1981
chi
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10145
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6
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5419
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