半导体器件成品率的高低是产品质量与可靠性高低的"预示"

• 作者: 彭苏娥
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子元器件 工艺控制 成品率 质量 可靠性
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 国外可靠性与环境试验技术
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: O213.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.03.014

摘要

介绍了国外半导体器件成品率与可靠性之间关系的研究结果,提出了元器件成品率的高低,是产品质量与可靠性高低的"预示"这一观点.同时还对成品率损失的原因、影响产品质量和可靠性的原因进行了分析,为内建可靠性、提高产品的成品率、质量和可靠性提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭苏娥		6	36	3.0	6.0