Ⅲ/Ⅴ族化合物半导体器件的空间应用可靠性

• 作者: 刘军霞 张新焕
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 失效机制 质量鉴定 辐射效应
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 46-50
• 页数: 5页
• 分类号: TN304.2+3|TN306
• 语种: 中文

摘要

论述了Ⅲ/Ⅴ半导体器件在空间系统应用中的可靠性和质量鉴定方法.讨论了空间应用中该类器件常见的失效机制、辐射效应以及其它与高可靠性空间应用中相关的可靠性鉴定技术方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张新焕	中国电子科技集团公司第五十五研究所	3	3	1.0	1.0
2	刘军霞	中国电子科技集团公司第五十五研究所	2	3	1.0	1.0