IC优化设计及其成品率预测

• 作者: 段旭朝 赵天绪
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 成品率 效益 优化设计 蒙特卡罗分析 性能综合指数
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 67-71
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2005.04.018

摘要

IC成品率是与电路性能和制造成本及制造效益紧密相关的一个重要因素,在进行IC优化设计时,可将成品率与制造效益作为协调各性能指标的优化目标.针对这一问题,本文完善了IC成品率效益协调优化设计模型,提出了一种实现该模型的IC优化设计和成品率预测方法,并利用OrCAD/PSpice中的统计分析和电路性能分析的功能和特点,建立了相应的算法.实例表明,该方法及其实现算法是有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵天绪	宝鸡文理学院计算信息科学研究所	31	129	6.0	9.0
2	段旭朝	宝鸡文理学院计算信息科学研究所	23	58	4.0	6.0