故障芯片重利用的三维存储器成品率提高方法

• 作者: 任福继 刘军 王堂亚
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 三维存储器 成品率 故障芯片 全局冗余 存储块
• 年，卷（期）: 2016,（10）
• 页码范围: 7-12,18
• 页数: 7页
• 分类号: TP391
• 语种: 中文

摘要

提出了一种对故障芯片进行重新利用以提高三维存储器成品率的方法。该方法首先将存储块划分为多个存储子块，然后对存储芯片进行绑定前的测试以获取存储芯片的故障分布信息，从而获取存储芯片中有故障的存储子块数量，并根据所提的芯片选择算法来选定合适的存储芯片进行绑定。接着在三维存储器中选择一个无故障的存储块作为全局冗余，利用全局冗余中的存储子块对三维存储器中有故障的存储子块进行修复。实验结果表明，所提方法有效的提高了三维存储器的成品率。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘军	合肥工业大学计算机与信息学院	29	146	7.0	10.0
5	王堂亚	合肥工业大学计算机与信息学院	1	1	1.0	1.0