存储器故障诊断算法的研究与改进

• 作者: 方葛丰 王家礼 郝延红
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 存储器 故障诊断 算法 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 测试·封装·材料
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TP333.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2005.10.036

摘要

由于存储器的结构比较复杂,应用又十分广泛,所以一直是国内外测试领域重点研究的课题之一.在研究经典的存储器故障诊断算法的基础上,吸取经典算法的思想,并结合实际需要,提出了一种基于地址移位的存储器故障诊断方法.他克服了以往算法占用计算机存储空间大、诊断耗时长的缺点,简单易行.实践证明,他的故障覆盖率完全满足要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王家礼	西安电子科技大学机电工程学院	65	586	14.0	20.0
2	郝延红	西安电子科技大学机电工程学院	1	9	1.0	1.0
3	方葛丰		2	16	2.0	2.0