存储器故障诊断算法的研究与实现

• 作者: 刘炎华 景为平
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器测试 故障模型 诊断算法 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 23-25,48
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 2184字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.12.007

摘要

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.文中从存储器的故障模型入手,着重描述了存储器常见的诊断算法.诊断算法和诊断策略要在诊断时间、故障覆盖率、面积开支之间进行权衡.因此要根据存储器的故障类型和测试需求来选择合适的诊断算法,才能达到比较满意的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘炎华	东南大学集成电路学院	1	18	1.0	1.0
2	景为平		55	267	9.0	13.0