基于子单元级冗余的VLSI成品率优化设计方法

• 作者: 焦永昌 赵天绪 郝跃 马佩军
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 成品率 遗传算法 最优分配模型
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文和技术报告
• 页码范围: 283-286
• 页数: 4页
• 分类号: TN43
• 字数: 3270字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2001.03.003

摘要

利用最优化思想描述了子单元级冗余的最优分配模型，用遗传算法给出了全局最优解．该模型中考虑了影响成品率的两个因素：缺陷的平均密度D和支撑电路的面积占单元总面积的比率δ．通过实例分析得到，在D保持不变时最优冗余分配数随δ的增加在减少，单元的成品率随δ的增加在下降；在δ保持不变时最优冗余分配数随D的增加而增加，单元的成品率随D的增加在下降．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子所	312	1866	17.0	25.0
2	焦永昌	西安电子科技大学微电子所	99	1155	17.0	27.0
3	马佩军	西安电子科技大学微电子所	34	163	8.0	10.0
4	赵天绪	西安电子科技大学微电子所	23	88	6.0	8.0