一种有效的IC成品率估算模型

• 作者: 赵天绪 郝跃 马佩军
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 功能成品率 缺陷 故障率
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 198-202
• 页数: 5页
• 分类号: TN43
• 字数: 3123字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2002.02.018

摘要

从缺陷造成电路故障的机理出发,给出了芯片故障概率和成品率的计算新模型.利用IC功能成品率仿真系统XD-YES对实际电路XT-1成品率参数的提取,同时利用新模型进行计算,其结果与实际结果符合很好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子所	312	1866	17.0	25.0
2	马佩军	西安电子科技大学微电子所	34	163	8.0	10.0
3	赵天绪	西安电子科技大学微电子所	23	88	6.0	8.0