一种有效的电路容错结构及其成品率分析

• 作者: 朱建纲 赵天绪 郝跃
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 容错结构 重组算法 成品率分析
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: TN405
• 字数: 4179字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2000.02.024

摘要

本文提出了一种有效的电路容错结构,给出了一种重组算法.按照这种重组算法,对该结构的成品率进行了分析,并给出了其成品率的表达式.最后,通过电路设计和分析说明了该容错结构的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子研究所	312	1866	17.0	25.0
2	朱建纲	西安电子科技大学微电子研究所	5	13	3.0	3.0
3	赵天绪	西安电子科技大学微电子研究所	23	88	6.0	8.0