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a-Se薄膜在X-ray照射下的光衰特性研究
a-Se薄膜在X-ray照射下的光衰特性研究
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摘要：
依据光电导与弛豫时间成反比变化的理论 ,在蒸发温度为220℃的条件下用真空沉积法制备了多块厚度不同的a-Se薄膜,对其在X-ray照射下的光衰效应进行实验研究. 实验结果表明a-Se薄膜在厚度较小时其灵敏度随厚度的增加而增加,在275～457 μm之间时,a-Se灵敏度存在极大值. 实验结果对基于a-Se薄膜光电导特性的探测器的性能优化有一定的指导作用.
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文献信息
| 篇名 | a-Se薄膜在X-ray照射下的光衰特性研究 | ||
| 来源期刊 | 武汉大学学报(理学版) | 学科 | 物理学 |
| 关键词 | a-Se 光衰 灵敏度 | ||
| 年，卷（期） | 2002,（5） | 所属期刊栏目 | 物理学 |
| 研究方向 | 页码范围 | 597-600 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | O484.4 |
| 字数 | 2564字 | 语种 | 中文 |
| DOI | 10.3321/j.issn:1671-8836.2002.05.019 | ||
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a-Se
光衰
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期刊影响力
武汉大学学报(理学版)
主办单位：
武汉大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
1671-8836
CN：
42-1674/N
开本：
大16开
出版地：
湖北武昌珞珈山武汉大学梅园一舍
邮发代号：
38-8
创刊时间：
1930
语种：
chi
出版文献量（篇）
2782
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