微波电路基片复介电常数无损测量的简单方法

• 作者: 刘其中 唐家明 杨德顺 田步宁
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 物理学
• 关键词: 电路基片 无损测量 复介电常数
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 543-546
• 页数: 4页
• 分类号: O441.6
• 字数: 1637字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2002.04.027

摘要

提出了一种无损测量微波电路基片复介电常数的简单方法.该方法把被测材料及取样器等效为测量网络与误差网络的并联,得到了复介电常数无损测量的计算公式.理论分析与实验结果表明:与传统的"场"分析方法相比,该方法具有模型简单、计算量小、精度较高且容易实现的优点.另外,对于材料置于封闭波导或同轴线中的有损测量情况,该方法同样适用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	130	1413	19.0	31.0
2	唐家明	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	18	267	7.0	16.0
3	田步宁	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	13	300	7.0	13.0
4	杨德顺	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	10	236	6.0	10.0