原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
1970年以来,近百个软件可靠性模型被建立起来,大部分模型是基于测试数据来建立的,用一定测试时间或数据范围内错误发生的概率来度量软件可靠性,希望用一种概率统计表达式来揭示错误发生的规律.很少有模型将可靠性度量与可靠性因素一开发者、开发工具、软件复杂度联系起来,Halstead模型是唯一将软件复杂性与软件错误数联系起来的模型,但是没有考虑其它两个可靠性因素.文章将这些因素考虑进来以后对Halstead模型进行了一定改进,得出一个面向用户的软件可靠性模型.
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文献信息
篇名 关于软件可靠性Halstead模型的改进
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 软件可靠性 软件可靠性因素 Halstead模型
年,卷(期) 2002,(11) 所属期刊栏目 软件与算法
研究方向 页码范围 38-40
页数 3页 分类号 TP311
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-7180.2002.11.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 方木云 87 452 11.0 17.0
2 汪光阳 56 384 10.0 18.0
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研究主题发展历程
节点文献
软件可靠性
软件可靠性因素
Halstead模型
研究起点
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期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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