WC粉末X射线衍射的粒度效应

• 作者: 吴冲浒 张守全 陈士仁
• 来源期刊: 中国有色金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: WC粉末 粒度 粒度效应 X射线衍射 谱线宽化
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 材料科学与工程
• 页码范围: 442-447
• 页数: 6页
• 分类号: TG135
• 字数: 3580字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-0609.2002.03.008

摘要

用X射线衍射研究粒度10.86～0.124 μm系列 WC粉末的粒度效应. 随粒度变小, 衍射线线形发生明显变化, 从敏锐到极其漫散. 亚微米级粒度的WC粉末谱线半高宽随粒度变细显著变化, 半高宽是度量粒度效应的主要指标, 而对于微米级粒度的粒度效应则可应用谱线背底宽度来衡量. 极细和超细粒度WC粉末衍射谱线的2 θ位置明显偏离平衡位置, 这与临近纳米粒度有关. WC粉末衍射强度也随粒度产生明显变化 , 衍射强度随粒度变细的变化规律与半高宽的规律呈反转对应关系. 应用WC粉末X射线衍射的粒度效应, 尤其是谱线宽化的规律作为评定亚微米级WC粉末粒度尤其是极细和超细粒度, 是有应用前景的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张守全	厦门金鹭特种合金有限公司技术研究与发展中心	21	120	7.0	9.0
2	吴冲浒	厦门金鹭特种合金有限公司技术研究与发展中心	24	205	8.0	13.0
3	陈士仁	厦门金鹭特种合金有限公司技术研究与发展中心	1	4	1.0	1.0