微分代数在磁场分析器高阶像差分析中的应用

• 作者: 唐天同 姚振华 王振华 程敏
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 微分代数 磁场分析器 像差分析
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 研究简讯
• 页码范围: 655-656
• 页数: 2页
• 分类号: O463.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-987X.2002.06.027

摘要

将微分代数引入到磁场分析器任意高阶的像差分析计算中.对一个实际的均匀扇形磁场分析器中的三阶像差系数的微分代数数值结果和相应的解析解进行了比较,相对误差不高于10-14,证明微分代数方法是一种具有极高精度的数值计算技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程敏	西安交通大学电子与信息工程学院	16	97	4.0	9.0
2	唐天同	西安交通大学电子与信息工程学院	49	145	6.0	9.0
3	姚振华	西安交通大学电子与信息工程学院	17	118	6.0	10.0
4	王振华	西安交通大学电子与信息工程学院	6	135	4.0	6.0