基于微机的边界扫描测试主控系统的设计

• 作者: 张华 沈绪榜 陈朝阳
• 来源期刊: 华中科技大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描测试 JTAG主控器 集成电路测试 PCI CPLD
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2002.05.008

摘要

分析了边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求,提出了一种基于微机PCI总线的低成本边界扫描测试主控系统的硬件设计方案.该系统以PC机为平台,以用CPLD器件实现的JTAG主控器生成满足IEEE1149.1协议的边界扫描测试信号,并用普通的SRAM实现存储器共享.仿真表明,该系统产生的测试信号完全满足IEEE1149.1协议的时序要求,可用于IC或PCB的边界扫描测试,以及进行边界扫描测试的研究和实验.