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摘要:
采用宽带数值模型,计算了半导体光放大器(SOA)中宽带ASE谱在空间和频域的演化.结果表明,在SOA有源区内的载流子密度分布是高度非均匀的.在小信号注入时,正向和背向ASE是引起SOA中强的纵向空间烧孔效应的主要因素.
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文献信息
篇名 半导体光放大器宽带ASE噪声谱数值模型
来源期刊 云南师范大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 半导体光放大器 ASE噪声 空间烧孔
年,卷(期) 2003,(5) 所属期刊栏目 物理学
研究方向 页码范围 29-33
页数 5页 分类号 O482.7
字数 3182字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-9793.2003.05.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘应开 云南师范大学物理与电子信息学院 38 81 5.0 6.0
2 杜雷鸣 云南师范大学物理与电子信息学院 18 20 2.0 3.0
3 陈俊 云南师范大学物理与电子信息学院 9 13 2.0 3.0
传播情况
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2012(1)
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研究主题发展历程
节点文献
半导体光放大器
ASE噪声
空间烧孔
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
云南师范大学学报(自然科学版)
双月刊
1007-9793
53-1046/N
大16开
云南昆明市一二一大街298号
64-74
1958
chi
出版文献量(篇)
2229
总下载数(次)
5
总被引数(次)
10561
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