利用CCD测量单缝衍射光强分布

• 作者: 孟继轲 时振涛 杨型健
• 来源期刊: 太原重型机械学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单缝衍射 电荷耦合器件CCD 模数转换(A/D) 光强分布
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 205-208
• 页数: 4页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 2508字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-2057.2003.03.011

摘要

利用一种新型半导体集成光电器件,即CCD(Charge Couple Devices)电荷耦合器件,并通过CCD专用接口卡来直接测量单缝衍射光强分布,实现测试数据自动采集和实验结果自动输出.叙述了线阵CCD测量光强度的原理,分析了系统的软、硬件设计及测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟继轲		1	0	0.0	0.0
2	杨型健		1	0	0.0	0.0
3	时振涛		1	0	0.0	0.0