F-P标准具间距高精度测量

• 作者: 王秀琳 谢建平 黄文财
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: F-P标准具 多光束干涉 光谱
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 所属期刊栏目: 光电技术与材料
• 页码范围: 749-752
• 页数: 4页
• 分类号: O436.1|TH741.1
• 字数: 1998字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2003.06.022

摘要

提出一种通过测量F-P标准具透射峰移动个数与F-P标准具入射角度改变的对应关系,从而求得F-P标准具间距的高精度测量方法.当角度测量精度为30",光谱仪精度为2 GHz时,该方法测量F-P标准具间距的相对误差为4×10-4.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢建平	中国科学技术大学物理系	39	337	10.0	16.0
2	王秀琳	集美大学基础部	12	105	7.0	10.0
3	黄文财	中国科学技术大学物理系	8	59	5.0	7.0