基于CCD的CDT电子束着屏误差自动测试系统

• 作者: 曾宇 李志能 毕岗
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统 电子束着屏误差 彩色显示管 微偏转线圈
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 42-45
• 页数: 4页
• 分类号: TN141
• 字数: 2329字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2003.04.012

摘要

利用CCD图像传感器和图像采集处理技术,实现了电子束着屏误差二维自动测量.在荧光屏的前端附加垂直和水平两组微偏转线圈,通过控制微偏转线圈的电流,改变着屏点附近的磁场,使电子束着屏点的位置在一个粉点范围内精确连续可调.标准光栅的测试验证,系统绝对误差小于5μm,表明该系统稳定可靠,一致性好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志能	浙江大学信息与电子工程学系	67	939	18.0	29.0
2	毕岗	浙江大学信息与电子工程学系	25	96	5.0	8.0
3	曾宇	浙江大学信息与电子工程学系	2	5	1.0	2.0