精密LCR测试技术研究

• 作者: 蔡文海 陈德智 陈芳 齐虹
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 阻抗测量 自动平衡电桥 电平控制 四端对
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 330-333
• 页数: 4页
• 分类号: TB973
• 字数: 2868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.2003.04.019

摘要

介绍了一种L、C、R测试系统,可以在75 kHz～30 MHz频率范围内对元器件进行精密测量.阐述了测试系统中的关键技术:包括自动平衡电桥法阻抗测量技术、75 kHz～30 MHz频率合成源技术、自动电平控制技术、鉴相及矢量测量技术、A/D变换技术和四端对结构.研究了测试系统的误差来源及消除误差的方法,给出了系统的校准件的数学模型,并据此模型对系统的分布参量误差、频响误差等进行测量校准.最后给出了实验结果,系统的准确度为0.1%,被测件DUT上所加信号频率为75 kHz～30 MHz,以100 Hz步进,幅度在5 mV～2 V范围内连续可调.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐虹		4	58	3.0	4.0
2	陈德智		1	32	1.0	1.0
3	蔡文海		1	32	1.0	1.0
4	陈芳		1	32	1.0	1.0