PLD EDA软件的基准测试

• 作者: 粟鹏义
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 基准测试 软件测试 电子设计自动化 可编程逻辑器件
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 软件可靠性与评测技术
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.01.010

摘要

介绍了用于可编程逻辑器件的电子设计自动化软件的基准测试以及所面临的问题,并针对目前高密度可编程逻辑器件的电子设计自动化软件,提出了一种基于IP核的基准测试的设想及实现方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	粟鹏义		5	19	3.0	4.0