DSP在通用数字测试仪中的应用

• 作者: 丁学明 张培仁 徐勇明 杨兴明
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 测试仪 GM8164 DSP SCI SPI
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 器件应用
• 页码范围: 93-94
• 页数: 2页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.01.034

摘要

本测试仪是基于DSP通用数字测试仪,采用DSP的SCI与PC机相连,通过DSP的SPI与 8片GM8164串联,这样对外可提供256个双向I/O口与待测电路板连接.PC机发送测试数据给待测电路板并对返回的测试结果数据进行分析判断,来确定电路板是否有故障,从而实现测试功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张培仁	中国科学技术大学自动化系	86	1264	18.0	32.0
2	丁学明	中国科学技术大学自动化系	10	94	4.0	9.0
3	徐勇明	中国科学技术大学自动化系	9	70	5.0	8.0
4	杨兴明	中国科学技术大学自动化系	5	50	3.0	5.0