单模光纤弯曲损耗的测量与分析

• 作者: 李晓东 游善红 郝素君 陈志勋
• 来源期刊: 光纤与电缆及其应用技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤损耗 耦合模理论 测量
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 12-15
• 页数: 4页
• 分类号: TN818
• 字数: 2652字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1908.2003.01.003

摘要

提供了弯曲半径从1.7mm到5.8mm,波长从1520nm到1565nm范围内单模光纤弯曲损耗的测试结果.观察到了弯曲损耗呈震荡变化,随着弯曲半径的增加损耗减小,振幅减小,随着波长的增加损耗增加、振幅增大的现象,并利用光纤的耦合模理论对单模光纤弯曲损耗震荡进行了解释.