基于Weibull过程的早期故障排除统计分析法

• 作者: 张洪泉 施云波 郭建英
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 威布尔过程 可修复产品 早期故障 老炼筛选
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: O213.2|O211.61
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.04.002

摘要

将含有早期故障的产品销售出厂,会严重地影响产品的使用可靠性乃至企业的信誉.如何把产品的早期故障排除在出厂之前,是生产企业非常关注的问题.为此,针对某类可修复产品,用Weibull过程描述批产品早期故障暴露的时间历程,并根据可靠性目标值科学地确定其老炼筛选时间,对产品出厂后的可靠性指标做出预评估.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭建英		71	768	14.0	24.0
2	施云波		54	262	9.0	12.0
3	张洪泉		14	100	6.0	9.0