考虑噪声效应的VDSM延时测试生成方法

• 作者: 冯刚 杜振军 马光胜
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 延时故障测试 噪声效应 布尔过程论 可敏化通路
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 页码范围: 431-435
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.7
• 字数: 4875字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7043.2003.04.019

摘要

为了解决超深亚微米芯片的延时测试问题,首先提出了一种新的基于布尔过程论的逻辑级噪声预测方法,用波形多项式描述的同时发生的跳变数来预测噪声大小,并生成能产生最大跳变数目的输入波形;然后同基于波形敏化的长敏化通路选择法相结合,提出了一种基于布尔过程论的能产生最大噪声效应的敏化测试波形生成方法.实验表明,本文提出的方法可以应用在复杂电路的延时故障测试中,有较好的推广价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马光胜	哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院	74	240	8.0	12.0
2	杜振军	哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院	12	48	3.0	6.0
3	冯刚	哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院	20	75	5.0	7.0