基于像散的并行全场三维检测新方法

• 作者: 余晓芬 俞建卫 徐科军 王永红 黄其圣
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 三维形貌 并行探测 像散 微透镜阵列
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 无线电电子学、电信技术
• 页码范围: 1548-1551
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2339字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1006-2467.2003.10.014

摘要

基于像散原理,提出了一种全场并行三维检测新方法,该检测方法利用微透镜阵列产生的二维点光源阵列来实现并行像散光路,实现了对测量表面的全场同步检测.利用像散特性曲线中的线性关系,实现在较大采样间距下获得较高的轴向分辨率.介绍了并行全场三维检测的测量原理,对像散光学系统的性能参数和影响因素进行了分析和讨论,并进行了可行性实验.实验结果中像散特性与理论分析是基本吻合的,表明像散法在并行三维检测中可以应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐科军	合肥工业大学仪器仪表学院	257	3454	31.0	42.0
2	余晓芬	合肥工业大学仪器仪表学院	97	756	14.0	22.0
3	俞建卫	合肥工业大学仪器仪表学院	85	935	17.0	25.0
4	王永红	合肥工业大学仪器仪表学院	58	365	11.0	15.0
5	黄其圣	合肥工业大学仪器仪表学院	23	247	10.0	15.0