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摘要:
为消除用X射线光刻机加工芯片时,光栅变形对图形特征尺寸的影响,提出了用外力控制掩模光栅微小变形方法.用理论分析和有限元计算相结合的方法分析掩模光栅在外力作用下的微小变形及其误差,并对实际结构模型进行实验验证,得到了满足使用要求的最佳设计参数.
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文献信息
篇名 掩模光栅微形变控制方法的研究
来源期刊 微细加工技术 学科 工学
关键词 掩模 X射线 形变 压力
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目 光子束技术
研究方向 页码范围 22-26
页数 5页 分类号 TN305.7
字数 2294字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李连进 天津理工学院机械工程系 16 107 6.0 9.0
3 王惠斌 天津钢管有限责任公司钢管研究所 18 95 6.0 9.0
传播情况
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1997(1)
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研究主题发展历程
节点文献
掩模
X射线
形变
压力
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微细加工技术
双月刊
1003-8213
43-1140/TN
大16开
湖南省长沙市
1983
chi
出版文献量(篇)
672
总下载数(次)
2
总被引数(次)
4940
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