波长色散X射线荧光分析的新发展

• 作者: 北京岛津科学仪器中心
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 波长色散X射线荧光分析 微区面分布的元素成像分析 高级次谱线分析方法 薄膜分析 无标样分析的基本参数法
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 仪器与技术
• 页码范围: 311-314
• 页数: 4页
• 分类号: O65
• 字数: 3754字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2003.04.016

摘要

除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展.在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时,对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍.