波长色散X射线荧光分析的新发展

• 作者: 安国玉
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 波长色散X射线荧光分析 微区面分布的元素成像分析 高级次谱线分析方法 薄膜分析 无标样分析的基本参数法
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: TH74
• 字数: 3222字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2006.05.006

摘要

论述了波长色散X射线荧光分析装置的发展状况.除了继续发展其在高含量、常量和微量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,在进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析范围;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展.本文介绍在商品化的分析装置方面的发展状况.同时本文引入对无标样分析的基本参数法(FP法)目前发展状况的介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	安国玉	岛津(香港)有限公司北京代表处	1	5	1.0	1.0