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摘要:
康普顿背散射成像是利用康普顿效应判断被照射物体内部结构的方法,广泛应用于工业和医学诊断领域.介绍应用MCNP程序模拟康普顿背散射成像的问题,计算了以250keV电子轰击钨靶产生的X射线谱为源的X射线检测碳和铁的康普顿背散射光子角分布,得到这两种物质的不同散射特性.
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文献信息
篇名 康普顿背散射成像的蒙特卡罗模拟
来源期刊 核电子学与探测技术 学科 工学
关键词 康普顿 蒙特卡罗 MCNP 背散射
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 155-158
页数 4页 分类号 TL82|O411.3
字数 2603字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-0934.2003.02.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 倪建平 清华大学工程物理系 17 69 4.0 7.0
2 刘以农 清华大学工程物理系 39 271 9.0 14.0
3 曹军生 清华大学工程物理系 1 25 1.0 1.0
传播情况
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2018(2)
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研究主题发展历程
节点文献
康普顿
蒙特卡罗
MCNP
背散射
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
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21728
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