疲劳寿命计电阻变化的灰色建模研究

• 作者: 王洪凯 胡明敏 魏平
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 灰色系统 寿命预测 GM-DM模型 电阻变化值
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 392-394,397
• 页数: 4页
• 分类号: TG111.8
• 字数: 2677字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2003.08.002

摘要

疲劳寿命计具有电阻-疲劳记忆特性,是一种新型的无损检测元件.其电阻值随疲劳而增加,载荷卸除后电阻变化值保留.它可用于多种目的的疲劳测试和结构疲劳检测.在给定载荷下,循环数和电阻变化量具有本征性的灰色关系,运用灰色系统的理论和方法,通过对循环数数列的一次累加,生成一个光滑离散函数.据此建立GM模型,并求解灰色系统微分方程.运用还原模型,可由测得的电阻变化量计算循环次数,进而推算结构的剩余寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡明敏	南京航空航天大学结构工程与力学系	46	236	9.0	12.0
2	王洪凯	山东大学数学与系统科学学院	25	279	9.0	16.0
3	魏平	南京航空航天大学结构工程与力学系	6	52	5.0	6.0