不同温度烧结的赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x电学性能

• 作者: 崔教林 赵新兵 钱欣
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: 赝两元合金 粉末冶金 电学性能 摩尔分数
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 413-420
• 页数: 8页
• 分类号: TN304
• 字数: 3918字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2003.02.026

摘要

首次采用粉末冶金法在大成分范围内制备了赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x(x=0～1),并对其电学性能进行了系统地研究.实验发现:经550℃烧结后,随合金中SnTe摩尔分数x增大,合金的最大Seebeck系数值减小.当摩尔分数x≤0.6时,最大Seebeck系数所对应的温度逐渐升高;摩尔分数x＞0.6时基本不变.当摩尔分数x=0.6时电导率达最大值.经高温烧结后两参数值也有类似的变化规律,但摩尔分数＞0.2的各合金Seebeck系数值高于550℃烧结后的合金,电导率降低.从而得出:烧结温度对赝两元合金(PbTe)1-x(SnTe)x的综合电学性能影响不大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔教林	宁波高等专科学校机械系	6	54	4.0	6.0
3	钱欣	浙江工业大学化工学院	61	804	16.0	27.0
6	赵新兵	宁波高等专科学校机械系	1	3	1.0	1.0