X射线在Au等离子体中的散射截面测量

• 作者: 唐昶环
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 金等离子体 散射截面 测量方法 强耦合
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 83-84
• 页数: 2页
• 分类号: TL651

摘要

x射线散射技术是了解等离子体中离子-离子间相关性的一个有用的工具。谈到该技术，首先要提到强耦合这个概念，即当等离子体中离子的库仑能大于其热运动动能时，称之为强耦合。这样，离子-离子间的相互作用可以表示为Γij／Ze^*(RiKTi)，Ti指离子温度，Ri离子间的平均距离，k是波尔兹曼常数，Ze^*指平均离化电荷。若Γij>1，则表明等离子体中的离子存在着一定的短程结构，这也表明用一定的结构因子，可以计算X射线的散射。同样，也可以通过测量X射线在等离子体中的散射截面随角度的变化，