模拟电路中非零交叉情况下故障最小范围的确定方法

• 作者: 李义府 李文华 蔡自兴 谢宏
• 来源期刊: 国防科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试值 不确定性组 故障定位 最优可测试成分
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 电子工程·机电工程
• 页码范围: 88-90
• 页数: 3页
• 分类号: TM13
• 字数: 2118字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2486.2003.01.019

摘要

为确定模拟电路非零交叉情况下故障元件存在范围,提出了一种K故障下诊断的新方法.它是一种确定故障元件存在的最小范围的方法,即在十分现实的K故障下,确定能代表电路所有元件并给出在K故障假设下的最优可测试元件组,使故障定位工作只局限于该组元件.通过可测试值计算和规范式不确定性组与最优可测试成分组的确定,可以诊断故障元件的范围.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡自兴	中南大学信息科学与工程学院	393	7036	40.0	69.0
2	李文华	第一军医大学生物医学工程系	5	24	2.0	4.0
3	谢宏	湖南大学电气与信息工程学院	52	377	11.0	18.0
4	李义府	中南大学信息科学与工程学院	18	30	3.0	5.0